Видео ютуба по тегу Inscilabtech

Полуширина и размер кристаллита по данным рентгеновской дифракции с использованием Origin | 2 метода | Уравнение Шеррера
Полуширина и размер кристаллита по данным рентгеновской дифракции с использованием Origin | 2 метода | Уравнение Шеррера
Подгонка нескольких пиков в спектроскопии XPS, Рамана и ФЛ │Подгонка кривой с использованием источника
Подгонка нескольких пиков в спектроскопии XPS, Рамана и ФЛ │Подгонка кривой с использованием источника
Уточнение по Ритвельду за 4 минуты │Самый простой способ уточнения результатов рентгеновской дифракции │с использованием MAUD
Уточнение по Ритвельду за 4 минуты │Самый простой способ уточнения результатов рентгеновской дифракции │с использованием MAUD