ASCENT Workshop part 11 – Metrology, Measurements, Tools, Characterization, and Data

Скачать ASCENT Workshop part 11 – Metrology, Measurements, Tools, Characterization, and Data бесплатно в качестве 4к (2к / 1080p)

У нас вы можете скачать бесплатно ASCENT Workshop part 11 – Metrology, Measurements, Tools, Characterization, and Data или посмотреть видео с ютуба в максимальном доступном качестве.

Для скачивания выберите вариант из формы ниже:

Cкачать музыку ASCENT Workshop part 11 – Metrology, Measurements, Tools, Characterization, and Data бесплатно в формате MP3:

Если иконки загрузки не отобразились, ПОЖАЛУЙСТА, НАЖМИТЕ ЗДЕСЬ или обновите страницу
Если у вас возникли трудности с загрузкой, пожалуйста, свяжитесь с нами по контактам, указанным в нижней части страницы.
Спасибо за использование сервиса video2dn.com

Описание к видео ASCENT Workshop part 11 – Metrology, Measurements, Tools, Characterization, and Data

Dr. Sumit Sharma explains how semiconductor products are measured, inspected, and tested for quality. He also explains how these quality measurements are used to improve the product.

Комментарии

Информация по комментариям в разработке

ASCENT Workshop part 11 – Metrology, Measurements, Tools, Characterization, and Data

Скачать ASCENT Workshop part 11 – Metrology, Measurements, Tools, Characterization, and Data бесплатно в качестве 4к (2к / 1080p)

Cкачать музыку ASCENT Workshop part 11 – Metrology, Measurements, Tools, Characterization, and Data бесплатно в формате MP3:

Описание к видео ASCENT Workshop part 11 – Metrology, Measurements, Tools, Characterization, and Data

Похожие видео