Скачать или смотреть Semilab Optical metrologies for SiC measurements

Semilab Optical metrologies for SiC measurements

Скачать Semilab Optical metrologies for SiC measurements бесплатно в качестве 4к (2к / 1080p)

У нас вы можете скачать бесплатно Semilab Optical metrologies for SiC measurements или посмотреть видео с ютуба в максимальном доступном качестве.

Для скачивания выберите вариант из формы ниже:

Информация по загрузке:

Cкачать музыку Semilab Optical metrologies for SiC measurements бесплатно в формате MP3:

Если иконки загрузки не отобразились, ПОЖАЛУЙСТА, НАЖМИТЕ ЗДЕСЬ или обновите страницу
Если у вас возникли трудности с загрузкой, пожалуйста, свяжитесь с нами по контактам, указанным в нижней части страницы.
Спасибо за использование сервиса video2dn.com

Описание к видео Semilab Optical metrologies for SiC measurements

How can silicon carbide wafers be measured? Meet the optical technology-based metrology portfolio by Semilab. Our small-footprint, non-contact FTIR-based metrology systems, EIR provide epitaxial thickness measurement. For crystal defects or stress related dislocation detection, we offer the polarized stress imaging-based PSI product line. For monitoring crystal defects of SiC substrate and epitaxial layers Semilab SPL systems can characterize compound semiconductors from UV to NIR spectral regions.

Interested deeper in optical metrologies' applications for wide bandgap materials?
For more information visit: https://semilab.com/

Комментарии

Информация по комментариям в разработке