Установка контроля МК - АМ. Рабочий цикл оператора ЧАСТЬ 3

Описание к видео Установка контроля МК - АМ. Рабочий цикл оператора ЧАСТЬ 3

Наш сайт: http://www.en.optes.by
Полное описание можно найти здесь: http://www.optes.by/prod/mikroskopy/m...
ЧАСТЬ 3-я
Установка контроля МК-АМ, предназначенная для визуального и автоматизированного контроля дефектов внешнего вида кристаллов на полупроводниковых пластинах с последующим формированием карты дефектов и возможностью маркировки в автоматическом режиме. В состав установки входит: микроскоп с автоматизированным столом, специализированное программное обеспечение, маркировщик.

Комментарии

Информация по комментариям в разработке