Скачать или смотреть Problems In Testing AI Chips

Problems In Testing AI Chips

Modus TestAI chipsSemiconductor Engineeringsemiconductor testCREScoaxial sockets

Скачать Problems In Testing AI Chips бесплатно в качестве 4к (2к / 1080p)

У нас вы можете скачать бесплатно Problems In Testing AI Chips или посмотреть видео с ютуба в максимальном доступном качестве.

Для скачивания выберите вариант из формы ниже:

Информация по загрузке:

Cкачать музыку Problems In Testing AI Chips бесплатно в формате MP3:

Если иконки загрузки не отобразились, ПОЖАЛУЙСТА, НАЖМИТЕ ЗДЕСЬ или обновите страницу
Если у вас возникли трудности с загрузкой, пожалуйста, свяжитесь с нами по контактам, указанным в нижней части страницы.
Спасибо за использование сервиса video2dn.com

Описание к видео Problems In Testing AI Chips

As AI chips get larger, it becomes much harder to test them. Today, there can be as many as 22,000 pins on a 150mm2 die, but in the future that number may increase to 80,000 pins. That creates a huge challenge for the fabs and the testers. Jack Lewis, chief technologist at Modus Test, talks with Semiconductor Engineering about the intricacies of testing these complex devices, from maintaining contact with those pins even on warped substrates, avoiding cross-talk, and monitoring how the coaxial sockets used to test these devices are functioning.

Комментарии

Информация по комментариям в разработке