Рентгеновская дифрактометрия - практические аспекты. Часть 1. Индексы Миллера

Рентгеновская дифрактометрия - практические аспекты. Часть 1. Курс основы нанохимии и нанотехнологий. Кристаллические системы (сингонии). Решетки Браве. Присвоение индексов Миллера отражающим плоскостям.

Тайм-коды:
00:00| Приветствие, план на видео, группы методов анализа
01:35| Возможности рентгеновской дифрактометрии
02:40| Немного вводных определений
05:43| Сингонии. Элементарная ячейка Типы решеток. Решетки Браве
22:03| Присвоение индексов Миллера отражающим плоскостям

Дополнительные ссылки:
Образовательная группа Kemister: https://vk.com/kemisters
Ссылка на презентацию: https://drive.google.com/file/d/1jo5U...
Плейлист    • Основы нанохимии и нанотехнологий  
Рентгеновская дифрактометрия. Часть 1    • Основы нанохимии и нанотехнологий. Ре...  
Рентгеновская дифрактометрия. Часть 2    • Основы нанохимии и нанотехнологий. Ре...